Відбитковий силіконовий матеріал "Сіеласт К" база

Abstract

Description

Citation

Пат. 57188 Україна, МПК C08L 83/04 (2006.01). Відбитковий силіконовий матеріал "Сіеласт К" база / В. П. Голік, І. В. Янішен, В. Г. Томілін, Ю. І. Довгопол, С. В. Черняєв, І. О. Перешивайлова ; патентовласник Харківський національний медичний університет. – № 201010060 ; заявл. 13.08.2010 ; опубл. 10.02.2011, Бюл. № 3. – 5 с.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By