Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://repo.knmu.edu.ua/handle/123456789/8671
Назва: Відбитковий силіконовий матеріал "Сіеласт К" база
Автори: Голік, В.П.
Янішен, І.В.
Томілін, В.Г.
Довгопол, Ю.І.
Черняєв, С.В.
Перешивайлова, І.О.
Теми: "Сіеласт К" база
Дата публікації: 10-лют-2011
Видавництво: Україна
Бібліографічний опис: Пат. 57188 Україна, МПК C08L 83/04 (2006.01). Відбитковий силіконовий матеріал "Сіеласт К" база / В. П. Голік, І. В. Янішен, В. Г. Томілін, Ю. І. Довгопол, С. В. Черняєв, І. О. Перешивайлова ; патентовласник Харківський національний медичний університет. – № 201010060 ; заявл. 13.08.2010 ; опубл. 10.02.2011, Бюл. № 3. – 5 с.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): https://repo.knmu.edu.ua/handle/123456789/8671
Розташовується у зібраннях:Наукові праці. Кафедра ортопедичної стоматології

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
томилин57188.pdf2,03 MBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.