DSpace О системе DSpace DSpace
 

Repository KhNMU >
Кафедри >
Кафедра медичної та біоорганічної хімії >
Наукові праці. Кафедра медичної та біоорганічної хімії >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://repo.knmu.edu.ua/handle/123456789/813

Название: Возрастные особенности изменения активности ферментов утилизации альдегидов в митохондриях сердца крыс при стрессе
Авторы: Грабовецкая, Евгения Романовна
Давыдов, Вадим Вячеславович
Дата публикации: 2009
Библиографическое описание: Грабовецкая Е. Р. Возрастные особенности изменения активности ферментов утилизации альдегидов в митохондриях сердца крыс при стрессе / Е.Р. Грабовецкая, В.В. Давыдов // Проблемы старения и долголетия. - 2009. - Т. 18, N 2. - С. 166-173.
Аннотация: C целью углубления представлений о механизмах возрастного изменения устойчивости сердца к стрессу исследована активность ферментов катаболизма эндогенных альдегидов в митохондриальной фракции миокарда 48 крыс разного возраста, подвергнутых иммобилизационному стрессу. Показано, что стресс 12- и 24-месячных крыс не сопровождается изменением активности ферментов катаболизма эндогенных альдегидов в митохондриях сердца. У 2-месячных животных при этом происходит снижение альдегиддегидрогеназной и повышение альдегидредуктазной активности, а у 1,5-месячных крыс – снижение альдегиддегидрогеназной и повышение глутатионтрансферазной активности. Стрессорная модуляция активности исследованных ферментов не сопровождается параллельным изменением концентрации ТБК-реактивных продуктов в митохондриальной фракции миокарда.
URI: http://repo.knmu.edu.ua/handle/123456789/813
Располагается в коллекциях:Наукові праці. Кафедра медичної та біоорганічної хімії

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
статья.pdf1,31 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Этот ресурс защищен исходным авторским правом

View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь