DSpace О системе DSpace DSpace
 

Repository KhNMU >
Кафедри >
Кафедра медичної та біоорганічної хімії >
Наукові праці. Кафедра медичної та біоорганічної хімії >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://repo.knmu.edu.ua/handle/123456789/2664

Название: Условия образования оксидов азота при растворении металлов в растворах азотной кислоты
Авторы: Козуб, Светлана Николаевна
Козуб, Павел Анатольевич
Ткачук, Наталья Михайловна
Мирошниченко, Виталий Викторович
Мирошниченко, Наталья Николаевна
Ключевые слова: оксиды азота
азотная кислота
Дата публикации: 2012
Издатель: Севастопольский национальный технический университет
Библиографическое описание: Козуб С.Н. Условия образования оксидов азота при растворении металлов в растворах азотной кислоты / С.Н. Козуб, П.А. Козуб, Н.М. Ткачук [и др.] // Современные проблемы физики, химии, биологии. ФизХимБио-2012 : сб. I международной научно-технической конференции, Севастополь, 28-30 ноября 2012 г. – Севастополь : СНТУ. - 2012. - С. 30-33.
Аннотация: Рассмотрена проблема образование оксидов азота при взаимодействии азотной кислоты с такими металлами как кадмий, никель, железо. Показано, что оптимальная концентрация азотной кислоты для проведения процессов растворения металлов находится в пределах 7-15% массовых и практически зависит от природы металла, участвующего в химическом процессе, что позволяет проводить технологический процесс растворения даже при температурах близких к температуре кипения без выделения оксидов азота.
URI: http://repo.knmu.edu.ua/handle/123456789/2664
Располагается в коллекциях:Наукові праці. Кафедра медичної та біоорганічної хімії

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Условия образования оксидов азота при растворении металлов в растворах азотной кислоты.doc87 kBMicrosoft WordПросмотреть/Открыть


Этот ресурс защищен исходным авторским правом

View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь