DSpace О системе DSpace DSpace
 

Repository KhNMU >
Кафедри >
Кафедра внутрішньої медицини № 2 і клінічної імунології та алергології >
Наукові роботи молодих вчених. Кафедра внутрішньої медицини № 2 і клінічної імунології та алергології >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://repo.knmu.edu.ua/handle/123456789/1128

Название: Особливості перебігу, частоти розвитку фатальних та нефатальних ускладнень гострого інфаркту міокарда у хворих з супутнім цукровим діабетом 2 типу
Другие названия: Особенности течения, частоты развития фатальных и нефатальных осложнений острого инфаркта миокарда у больных с сопутствующим сахарным диабетом 2 типа
Авторы: Заїкіна, Тетяна Сергіївна
Ключевые слова: кардіологія
инфаркт міокарда
цукровий діабет 2 типу
Дата публикации: 2012
Издатель: Харківський національний медичний університет
Библиографическое описание: Заїкіна Т.С. Особливості перебігу, частоти розвитку фатальних та нефатальних ускладнень гострого інфаркту міокарда у хворих із супутнім цукровим діабетом 2 типу : тези / Т.С. Заїкіна // Коморбідні стани в клініці внутрішніх хвороб: матеріали науково-практичної конференції студентів та молодих вчених, 25 жовтня 2012р., Харків / ред. рада: В.М. Лісовий (голова) та ін. – Х., 2012. – С. 15-16.
Аннотация: Актуальність проблеми гострого інфаркта міокарда у хворих з цукровим діабетом 2 типу визначається їх широкою розповсюдженістю, важким перебігом і більшою, ніж у групі без цукрового діабету 2 типу, частотою розвитку нефатальних і фатальних ускладнень
URI: http://repo.knmu.edu.ua/handle/123456789/1128
Располагается в коллекциях:Наукові роботи молодих вчених. Кафедра внутрішньої медицини № 2 і клінічної імунології та алергології

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
тези молоді вчені.doc22,5 kBMicrosoft WordПросмотреть/Открыть


Этот ресурс защищен исходным авторским правом

View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь